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Cardarilli, G.c., Ottavi, M., Pontarelli, S., Re, M., Salsano, A. (2004). Data integrity evaluations of Reed Solomon codes for storage systems [solid state mass memories]. In Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2004. DFT 2004. Proceedings. 19th IEEE International Symposium on (pp.158-164) [10.1109/DFTVS.2004.1347836].

Data integrity evaluations of Reed Solomon codes for storage systems [solid state mass memories]

CARDARILLI, GIAN CARLO;OTTAVI, MARCO;PONTARELLI, SALVATORE;RE, MARCO;SALSANO, ADELIO
2004-01-01
19th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems. DFT 2004.
2004
Rilevanza internazionale
2004
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Cardarilli, G.c., Ottavi, M., Pontarelli, S., Re, M., Salsano, A. (2004). Data integrity evaluations of Reed Solomon codes for storage systems [solid state mass memories]. In Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2004. DFT 2004. Proceedings. 19th IEEE International Symposium on (pp.158-164) [10.1109/DFTVS.2004.1347836].
Cardarilli, Gc; Ottavi, M; Pontarelli, S; Re, M; Salsano, A
02 - Intervento a convegno
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