Error correction codes for SEU and SEFI tolerant memory systems

Pontarelli, S; Cardarilli, Gc; Re, M; Salsano, A

doi:10.1109/DFT.2009.8

Pontarelli, S., Cardarilli, G.c., Re, M., Salsano, A. (2009). Error correction codes for SEU and SEFI tolerant memory systems. In 24th IEEE International symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems, 2009. DFT '09. (pp.425-430). IEEE [10.1109/DFT.2009.8].

Error correction codes for SEU and SEFI tolerant memory systems

PONTARELLI, SALVATORE;CARDARILLI, GIAN CARLO;RE, MARCO;SALSANO, ADELIO

2009-01-01

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Scheda completa (DC)

	Nome del convegno
	
				24th IEEE International symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems, 2009. DFT '09.
			
	Luogo del convegno
	
				Chicago, Illinois, USA
			
	Anno del convegno
	
				2009
			
	Organizzatore/i del convegno
	
				IEEE
			
	Rilevanza del convegno
	
				Rilevanza internazionale
			
	Tipo di relazione
	
				contributo
			
	Data di pubblicazione
	
				2009
			
	DOI dell'intervento
	
				https://dx.doi.org/10.1109/DFT.2009.8
			
	Settore disciplinare dell'intervento (valido fino a 24/06/2024)
	
				Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
			
	Lingua del contenuto
	
				English
			
	Parole chiave
	
				Hsiao code;byte erasure;error correction codes;memory chips;single event functional interruption;single event upset;spaceborne computer;word length 64 bit;error correction codes;fault tolerance;integrated memory circuits;radiation hardening (electronics);
			
	Tipologia
	
				Intervento a convegno
			
	Citazione
	
				Pontarelli, S., Cardarilli, G.c., Re, M., Salsano, A. (2009). Error correction codes for SEU and SEFI tolerant memory systems. In 24th IEEE International symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems, 2009. DFT '09. (pp.425-430). IEEE [10.1109/DFT.2009.8].
			
	Tutti gli autori
	
						Pontarelli, S; Cardarilli, Gc; Re, M; Salsano, A
					
	Appare nelle tipologie:
	
				02 - Intervento a convegno