Error correction codes for SEU and SEFI tolerant memory systems

Pontarelli, S; Cardarilli, Gc; Re, M; Salsano, A

doi:10.1109/DFT.2009.8

Pontarelli, S., Cardarilli, G.c., Re, M., Salsano, A. (2009). Error correction codes for SEU and SEFI tolerant memory systems. In 24th IEEE International symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems, 2009. DFT '09. (pp.425-430). IEEE [10.1109/DFT.2009.8].

Error correction codes for SEU and SEFI tolerant memory systems

PONTARELLI, SALVATORE;CARDARILLI, GIAN CARLO;RE, MARCO;SALSANO, ADELIO

2009-01-01

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Scheda completa (DC)

	Nome del convegno
	
			24th IEEE International symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems, 2009. DFT '09.
		
	Luogo del convegno
	
			Chicago, Illinois, USA
		
	Anno del convegno
	
			2009
		
	Organizzatore/i del convegno
	
			IEEE
		
	Rilevanza del convegno
	
			Rilevanza internazionale
		
	Tipo di relazione
	
			contributo
		
	Data di pubblicazione
	
			2009
		
	DOI dell'intervento
	
			https://dx.doi.org/10.1109/DFT.2009.8
		
	Settore disciplinare dell'intervento
	
			Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
		
	Lingua del contenuto
	
			English
		
	Parole chiave
	
			Hsiao code;byte erasure;error correction codes;memory chips;single event functional interruption;single event upset;spaceborne computer;word length 64 bit;error correction codes;fault tolerance;integrated memory circuits;radiation hardening (electronics);
		
	Tipologia
	
			Intervento a convegno
		
	Citazione
	
			Pontarelli, S., Cardarilli, G.c., Re, M., Salsano, A. (2009). Error correction codes for SEU and SEFI tolerant memory systems. In 24th IEEE International symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems, 2009. DFT '09. (pp.425-430). IEEE [10.1109/DFT.2009.8].
		
	Tutti gli autori
	
			Pontarelli, S; Cardarilli, Gc; Re, M; Salsano, A
		
	Appare nelle tipologie:
	
			02 - Intervento a convegno