We review the structural results obtained by the analysis of the fine structure detected in the low kinetic energy range (50-400 eV) of the secondary electrons backscattered from solid surfaces. Several experiments have been performed to assess a unified picture of the physical mechanism underlying this fine structure. An interference effect experienced by the autoionized core electron seems to be the dominant channel in several materials. This allows a fruitful extension of the Auger technique to the short range structural analysis in terms of a straightforward determination of pair distribution function, disorder and thermal effects of the first few atomic layers.
Autori: | |
Autori: | De Crescenzi, M; Colonna, S; Gunnella, R; Fanfoni, M |
Titolo: | Extended fine-structure in secondary backscattered electrons |
Nome del convegno: | 18th Annual International Seminar on Surface Physics |
Luogo del convegno: | POLANICA ZDROJ, POLAND |
Anno del convegno: | JUN 10-14, 1996 |
Enti collegati al convegno: | Univ Wroclaw, Inst Exptl Phys, European Phys Soc, Polish Minist Educ, Fdn Polish-German Cooperat, Univ Wroclaw, Fdn Univ Wroclaw, Stefaan Batory Fdn, Int Sci Fdn |
Rilevanza: | Rilevanza internazionale |
Sezione: | contributo |
Data di pubblicazione: | 1996 |
Settore Scientifico Disciplinare: | Settore FIS/03 - Fisica della Materia |
Lingua: | English |
Tipologia: | Intervento a convegno |
Citazione: | De Crescenzi, M., Colonna, S., Gunnella, R., & Fanfoni, M. (1996). Extended fine-structure in secondary backscattered electrons. In Progress in Surface Science (pp.253-264). OXFORD : PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD. |
Appare nelle tipologie: | 02 - Intervento a convegno |
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