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EnglishWe review the structural results obtained by the analysis of the fine structure detected in the low kinetic energy range (50-400 eV) of the secondary electrons backscattered from solid surfaces. Several experiments have been performed to assess a unified picture of the physical mechanism underlying this fine structure. An interference effect experienced by the autoionized core electron seems to be the dominant channel in several materials. This allows a fruitful extension of the Auger technique to the short range structural analysis in terms of a straightforward determination of pair distribution function, disorder and thermal effects of the first few atomic layers.
| Autori: | |
| Autori: | De Crescenzi, M; Colonna, S; Gunnella, R; Fanfoni, M |
| Titolo: | Extended fine-structure in secondary backscattered electrons |
| Nome del convegno: | 18th Annual International Seminar on Surface Physics |
| Luogo del convegno: | POLANICA ZDROJ, POLAND |
| Anno del convegno: | JUN 10-14, 1996 |
| Enti collegati al convegno: | Univ Wroclaw, Inst Exptl Phys, European Phys Soc, Polish Minist Educ, Fdn Polish-German Cooperat, Univ Wroclaw, Fdn Univ Wroclaw, Stefaan Batory Fdn, Int Sci Fdn |
| Rilevanza: | Rilevanza internazionale |
| Sezione: | contributo |
| Data di pubblicazione: | 1996 |
| Settore Scientifico Disciplinare: | Settore FIS/03 - Fisica della Materia |
| Lingua: | English |
| Tipologia: | Intervento a convegno |
| Citazione: | De Crescenzi, M., Colonna, S., Gunnella, R., & Fanfoni, M. (1996). Extended fine-structure in secondary backscattered electrons. In Progress in Surface Science (pp.253-264). OXFORD : PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD. |
| Appare nelle tipologie: | 02 - Intervento a convegno |
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