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Bolchini, C., Miele, A., Sandionigi, C., Ottavi, M., Pontarelli, S., Salsano, A., et al. (2012). High-reliability fault tolerant digital systems in nanometric technologies: Characterization and design methodologies. In IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2012 IEEE International Symposium on (pp.121-125). IEEE [10.1109/DFT.2012.6378211].

High-reliability fault tolerant digital systems in nanometric technologies: Characterization and design methodologies

OTTAVI, MARCO;PONTARELLI, SALVATORE;SALSANO, ADELIO;
2012-10-01
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2012
Rilevanza internazionale
ott-2012
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Article number 6378211
Intervento a convegno
Bolchini, C., Miele, A., Sandionigi, C., Ottavi, M., Pontarelli, S., Salsano, A., et al. (2012). High-reliability fault tolerant digital systems in nanometric technologies: Characterization and design methodologies. In IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2012 IEEE International Symposium on (pp.121-125). IEEE [10.1109/DFT.2012.6378211].
Bolchini, C; Miele, A; Sandionigi, C; Ottavi, M; Pontarelli, S; Salsano, A; Metra, C; Omana, M; Rossi, D; Reorda, M; Sterpone, L; Violante, M; Gerardi...espandi
02 - Intervento a convegno
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