IRIS

Wang, X., Ottavi, M., Lombardi, F. (2004). Testing of inter-word coupling faults in word-oriented SRAMs. In Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2004. DFT 2004. Proceedings. 19th IEEE International Symposium on (pp.111-119). IEEE [10.1109/DFTVS.2004.1347831].

Testing of inter-word coupling faults in word-oriented SRAMs

OTTAVI, MARCO;
2004-01-01
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2004. DFT 2004
Rilevanza internazionale
2004
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Wang, X., Ottavi, M., Lombardi, F. (2004). Testing of inter-word coupling faults in word-oriented SRAMs. In Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2004. DFT 2004. Proceedings. 19th IEEE International Symposium on (pp.111-119). IEEE [10.1109/DFTVS.2004.1347831].
Wang, X; Ottavi, M; Lombardi, F
02 - Intervento a convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2108/94153
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 1
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 1
social impact