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Ottavi, M., Schiano, L., Wang, X., Kim, Y., Meyer, F., Lombardi, F. (2004). Yield evaluation methods of SRAM arrays: A comparative study. In Instrumentation and Measurement Technology Conference, 2004. IMTC 04. Proceedings of the 21st IEEE (pp.1525-1530) [10.1109/IMTC.2004.1351355].

Yield evaluation methods of SRAM arrays: A comparative study

OTTAVI, MARCO;
2004-01-01
21st IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, 2004. IMTC 04.
Rilevanza internazionale
2004
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Ottavi, M., Schiano, L., Wang, X., Kim, Y., Meyer, F., Lombardi, F. (2004). Yield evaluation methods of SRAM arrays: A comparative study. In Instrumentation and Measurement Technology Conference, 2004. IMTC 04. Proceedings of the 21st IEEE (pp.1525-1530) [10.1109/IMTC.2004.1351355].
Ottavi, M; Schiano, L; Wang, X; Kim, Y; Meyer, F; Lombardi, F
02 - Intervento a convegno
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