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Wang, X., Ottavi, M., Lombardi, F. (2003). Yield analysis of compiler-based arrays of embedded SRAMs. In Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2003. Proceedings. 18th IEEE International Symposium on (pp.3-10) [10.1109/DFTVS.2003.1250089].

Yield analysis of compiler-based arrays of embedded SRAMs

OTTAVI, MARCO;
2003-01-01
18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2003.
Rilevanza internazionale
2003
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Wang, X., Ottavi, M., Lombardi, F. (2003). Yield analysis of compiler-based arrays of embedded SRAMs. In Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2003. Proceedings. 18th IEEE International Symposium on (pp.3-10) [10.1109/DFTVS.2003.1250089].
Wang, X; Ottavi, M; Lombardi, F
02 - Intervento a convegno
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