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Wang, X., Ottavi, M., Meyer, F., Lombardi, F. (2004). On the yield of compiler-based eSRAMs. In Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2004. DFT 2004. Proceedings. 19th IEEE International Symposium on (pp.11-19). IEEE [10.1109/DFTVS.2004.1347820].

On the yield of compiler-based eSRAMs

OTTAVI, MARCO;
2004-01-01
19th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems. DFT 2004.
Rilevanza internazionale
2004
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Wang, X., Ottavi, M., Meyer, F., Lombardi, F. (2004). On the yield of compiler-based eSRAMs. In Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2004. DFT 2004. Proceedings. 19th IEEE International Symposium on (pp.11-19). IEEE [10.1109/DFTVS.2004.1347820].
Wang, X; Ottavi, M; Meyer, F; Lombardi, F
02 - Intervento a convegno
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