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Schiano, L., Ottavi, M., Lombardi, F. (2004). Markov Models of Fault-Tolerant Memory Systems under SEU. In Memory Technology, Design and Testing, 2004. Records of the 2004 International Workshop on (pp.38-43). IEEE [10.1109/MTDT.2004.1327982].

Markov Models of Fault-Tolerant Memory Systems under SEU

OTTAVI, MARCO;
2004-01-01
International Workshop on Memory Technology, Design and Testing
2004
Rilevanza internazionale
2004
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Schiano, L., Ottavi, M., Lombardi, F. (2004). Markov Models of Fault-Tolerant Memory Systems under SEU. In Memory Technology, Design and Testing, 2004. Records of the 2004 International Workshop on (pp.38-43). IEEE [10.1109/MTDT.2004.1327982].
Schiano, L; Ottavi, M; Lombardi, F
02 - Intervento a convegno
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