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Momenzadeh, M., Ottavi, M., Lombardi, F. (2005). Modeling QCA defects at molecular-level in combinational circuits. In Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2005. DFT 2005. 20th IEEE International Symposium on (pp.208-216). IEEE [10.1109/DFTVS.2005.46].

Modeling QCA defects at molecular-level in combinational circuits

OTTAVI, MARCO;
2005-01-01
20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems. DFT 2005.
Rilevanza internazionale
2005
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Momenzadeh, M., Ottavi, M., Lombardi, F. (2005). Modeling QCA defects at molecular-level in combinational circuits. In Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2005. DFT 2005. 20th IEEE International Symposium on (pp.208-216). IEEE [10.1109/DFTVS.2005.46].
Momenzadeh, M; Ottavi, M; Lombardi, F
02 - Intervento a convegno
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