Busby, Y., Noël, C., Pescetelli, S., Agresti, A., Di Carlo, A., Pireaux, J.j., et al. (2018). XPS depth profiles of organo lead halide layers and full perovskite solar cells by variable-size argon clusters. In Physical Chemistry of Semiconductor Materials and Interfaces XVII. Bellingham : SPIE [10.1117/12.2320488].

XPS depth profiles of organo lead halide layers and full perovskite solar cells by variable-size argon clusters

Pescetelli S.;Agresti A.;Di Carlo A.;
2018-01-01

SPIE Nanoscience + Engineering 2018
San Diego, California, United States
2018
SPIE
Rilevanza internazionale
2018
Settore ING-INF/01
Settore IINF-01/A - Elettronica
English
Intervento a convegno
Busby, Y., Noël, C., Pescetelli, S., Agresti, A., Di Carlo, A., Pireaux, J.j., et al. (2018). XPS depth profiles of organo lead halide layers and full perovskite solar cells by variable-size argon clusters. In Physical Chemistry of Semiconductor Materials and Interfaces XVII. Bellingham : SPIE [10.1117/12.2320488].
Busby, Y; Noël, C; Pescetelli, S; Agresti, A; Di Carlo, A; Pireaux, Jj; Houssiau, L
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