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EnglishThe work function of solid layers of increasing thicknesses of E2M8- sapphyrin, deposited on a gold substrate by the Langmuir-Blodgett method, has been measured by the Kelvin-probe technique. The results show that the contact-potential-difference values depend upon the layer thickness, reaching saturation after a certain amount of deposited sapphyrin. Scanning tunneling microscope images taken at the same coverages show that corresponding with this threshold, sapphyrin forms a true continuous layer on gold, completely covering the substrate. Evolution of the layer towards its completion is accompanied by a continuous variation of the work-function value, consistent with an increasing dipole term due to the interaction of sapphyrin with the metal substrate. (C) 1999 American Institute of Physics. [S0003-6951(99)04235-7].
| Tipologia: | Articolo su rivista |
| Citazione: | Goletti, C., Sgarlata, A., Motta, N., Chiaradia, P., Paolesse, R., Angelaccio, A., et al. (1999). Kelvin probe and scanning tunneling microscope characterization of Langmuir-Blodgett sapphyrin films. APPLIED PHYSICS LETTERS, 75(9), 1237-1239. |
| IF: | Con Impact Factor ISI |
| Lingua: | English |
| Settore Scientifico Disciplinare: | Settore FIS/03 - Fisica della Materia |
| Revisione (peer review): | Sì, ma tipo non specificato |
| Tipo: | Articolo |
| Rilevanza: | Rilevanza internazionale |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1063/1.124653 |
| Stato di pubblicazione: | Pubblicato |
| Data di pubblicazione: | 1999 |
| Titolo: | Kelvin probe and scanning tunneling microscope characterization of Langmuir-Blodgett sapphyrin films |
| Autori: | |
| Autori: | Goletti, C; Sgarlata, A; Motta, N; Chiaradia, P; Paolesse, R; Angelaccio, A; Drago, M; Di Natale, C; D'Amico, A; Cocco, M; Troitsky, VI |
| Appare nelle tipologie: | 01 - Articolo su rivista |
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