Ansari, L., Vyatskikh, A., Dorow, C., Kharwar, S., Kheirabadi, S.j., Hurley, P.k., et al. (2024). Correlation of TMD Defects with Device Performance in Ultra-Scaled Channels: Theoretical Insights and Experimental Observations. ??????? it.cilea.surplus.oa.citation.tipologie.CitationProceedings.prensentedAt ??????? 2024 IEEE International Electron Devices Meeting [10.1109/IEDM50854.2024.10873322].
Correlation of TMD Defects with Device Performance in Ultra-Scaled Channels: Theoretical Insights and Experimental Observations
Camilli L.;Scarselli M.;
2024-01-01
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