Phan, A., Di Vito, A., Pecchia, A., Auf der Maur, M. (2023). Empirical tight-binding simulations for nonuniform disordered GaAsSb alloy. In 2023 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD) (pp.73-74). IEEE [10.1109/NUSOD59562.2023.10273494].

Empirical tight-binding simulations for nonuniform disordered GaAsSb alloy

Phan, Anh-Luan;Di Vito, Alessia;Auf der Maur, Matthias
2023-01-01

2023 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD)
Turin
2023
Rilevanza internazionale
2023
Settore ING-INF/01
English
Intervento a convegno
Phan, A., Di Vito, A., Pecchia, A., Auf der Maur, M. (2023). Empirical tight-binding simulations for nonuniform disordered GaAsSb alloy. In 2023 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD) (pp.73-74). IEEE [10.1109/NUSOD59562.2023.10273494].
Phan, A; Di Vito, A; Pecchia, A; Auf der Maur, M
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
2023136015.pdf

solo utenti autorizzati

Tipologia: Documento in Pre-print
Licenza: Copyright dell'editore
Dimensione 276.92 kB
Formato Adobe PDF
276.92 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri   Richiedi una copia

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2108/342523
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact