La presente invenzione si riferisce ad un dispositivo per l’efficace pulizia di punte di una sonda di un Microscopio a Scansione Tunnel (STM) in ultra alto vuoto che comprende: - mezzi atti a bombardare - una punta con un fascio di elettroni, - un microscopio come specificato che lo include e ad un procedimento per pulire punte di una sonda di un Microscopio a Scansione Tunnel (STM) in ultra alto vuoto che comprende le fasi di: -trasferire una punta su un sistema di alloggiamento isolante; - avvicinare a detta punta un filamento conduttore; - applicare una predeterminata corrente a detto filamento conduttore; - applicare una predeterminata differenza di potenziale tra detto filamento conduttore e detta punta da pulire per un tempo predeterminato, in modo tale che detta punta sia sottoposta a un flusso di elettroni.
Motta, N., Sgarlata, A., Iannilli, M., Pecchi, D. (2004). DISPOSITIVO PER LA PULIZIA DI PUNTE DI UN MICROSCOPIO A SCANSIONE TUNNEL (STM), MICROSCOPIO A SCANSIONE TUNNEL E RELATIVO PROCEDIMENTO DI PULIZIA.
DISPOSITIVO PER LA PULIZIA DI PUNTE DI UN MICROSCOPIO A SCANSIONE TUNNEL (STM), MICROSCOPIO A SCANSIONE TUNNEL E RELATIVO PROCEDIMENTO DI PULIZIA
MOTTA, NUNZIO;SGARLATA, ANNA;IANNILLI, MAURIZIO;PECCHI, DANIELE
2004-09-29
Abstract
La presente invenzione si riferisce ad un dispositivo per l’efficace pulizia di punte di una sonda di un Microscopio a Scansione Tunnel (STM) in ultra alto vuoto che comprende: - mezzi atti a bombardare - una punta con un fascio di elettroni, - un microscopio come specificato che lo include e ad un procedimento per pulire punte di una sonda di un Microscopio a Scansione Tunnel (STM) in ultra alto vuoto che comprende le fasi di: -trasferire una punta su un sistema di alloggiamento isolante; - avvicinare a detta punta un filamento conduttore; - applicare una predeterminata corrente a detto filamento conduttore; - applicare una predeterminata differenza di potenziale tra detto filamento conduttore e detta punta da pulire per un tempo predeterminato, in modo tale che detta punta sia sottoposta a un flusso di elettroni.I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
