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Bala, A., Khandelwal, S., Jabir, A., Ottavi, M. (2022). Yield Evaluation of Faulty Memristive Crossbar Array-based Neural Networks with Repairability. In 2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) (pp.1-5). IEEE [10.1109/IOLTS56730.2022.9897183].

Yield Evaluation of Faulty Memristive Crossbar Array-based Neural Networks with Repairability

Ottavi M.
2022-01-01
IEEE IOLTS 2022
Rilevanza internazionale
2022
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Bala, A., Khandelwal, S., Jabir, A., Ottavi, M. (2022). Yield Evaluation of Faulty Memristive Crossbar Array-based Neural Networks with Repairability. In 2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) (pp.1-5). IEEE [10.1109/IOLTS56730.2022.9897183].
Bala, A; Khandelwal, S; Jabir, A; Ottavi, M
02 - Intervento a convegno
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