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Annink, E.b., Rauwerda, G., Hakkennes, E., Menicucci, A., Mascio, S.d., Furano, G., et al. (2022). Preventing Soft Errors and Hardware Trojans in RISC-V Cores. In 2022 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) (pp.1-6). IEEE [10.1109/DFT56152.2022.9962340].

Preventing Soft Errors and Hardware Trojans in RISC-V Cores

Ottavi M.
2022-01-01
IEEE DFTS 2022
Rilevanza internazionale
2022
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Annink, E.b., Rauwerda, G., Hakkennes, E., Menicucci, A., Mascio, S.d., Furano, G., et al. (2022). Preventing Soft Errors and Hardware Trojans in RISC-V Cores. In 2022 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) (pp.1-6). IEEE [10.1109/DFT56152.2022.9962340].
Annink, Eb; Rauwerda, G; Hakkennes, E; Menicucci, A; Mascio, Sd; Furano, G; Ottavi, M
02 - Intervento a convegno
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