Raffo, A., Vadala, V., Bosi, G., Giofre, R., Vannini, G. (2022). 150-nm GaN HEMT Degradation under Realistic Load-Line Operation. In proceedings of the 17th European Microwave Integrated Circuits Conference, EuMIC 2022 (pp.141-144) [10.23919/EuMIC54520.2022.9923438].
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