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Raffo, A., Vadala, V., Bosi, G., Giofre, R., Vannini, G. (2022). 150-nm GaN HEMT Degradation under Realistic Load-Line Operation. In proceedings of the 17th European Microwave Integrated Circuits Conference, EuMIC 2022 (pp.141-144) [10.23919/EuMIC54520.2022.9923438].

150-nm GaN HEMT Degradation under Realistic Load-Line Operation

Giofre Rocco;
2022-01-01
17th European Microwave Integrated Circuits Conference, EuMIC 2022
Rilevanza internazionale
contributo
2022
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Raffo, A., Vadala, V., Bosi, G., Giofre, R., Vannini, G. (2022). 150-nm GaN HEMT Degradation under Realistic Load-Line Operation. In proceedings of the 17th European Microwave Integrated Circuits Conference, EuMIC 2022 (pp.141-144) [10.23919/EuMIC54520.2022.9923438].
Raffo, A; Vadala, V; Bosi, G; Giofre, R; Vannini, G
02 - Intervento a convegno
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