Bosi, G., Vadala, V., Giofre, R., Raffo, A., Vannini, G. (2021). Evaluation of Microwave Transistor Degradation Using Low-Frequency Time-Domain Measurements. In Proceedings of 2021 XXXIVth General Assembly and Scientific Symposium of the International Union of Radio Science (URSI GASS) (pp.01-03) [10.23919/URSIGASS51995.2021.9560595].

Evaluation of Microwave Transistor Degradation Using Low-Frequency Time-Domain Measurements

Giofre, Rocco;
2021-10-01

2021 XXXIVth General Assembly and Scientific Symposium of the International Union of Radio Science (URSI GASS)
Rilevanza internazionale
ott-2021
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Bosi, G., Vadala, V., Giofre, R., Raffo, A., Vannini, G. (2021). Evaluation of Microwave Transistor Degradation Using Low-Frequency Time-Domain Measurements. In Proceedings of 2021 XXXIVth General Assembly and Scientific Symposium of the International Union of Radio Science (URSI GASS) (pp.01-03) [10.23919/URSIGASS51995.2021.9560595].
Bosi, G; Vadala, V; Giofre, R; Raffo, A; Vannini, G
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