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EnglishBonfigli, F., Gaudio, P., Lupelli, I., Nichelatti, E., Richetta, M., Vincenti, M.A., et al. (2010). Characterization of lif-based soft x-ray imaging detectors by confocal fluorescence microscopy. In IOP Conferenze series: materials science and engineering (pp.1-8). USA : IOP.
| Autori: | |
| Autori: | Bonfigli, F; Gaudio, P; Lupelli, I; Nichelatti, E; Richetta, M; Vincenti, MA; Montereali, RM |
| Titolo: | Characterization of lif-based soft x-ray imaging detectors by confocal fluorescence microscopy |
| Nome del convegno: | EURODIM 2010: Europhysical conference on defects in insulating materials |
| Anno del convegno: | 2010 |
| Numero del convegno: | 11. |
| Rilevanza: | Rilevanza internazionale |
| Sezione: | contributo |
| ???metadata.dc.date.created???: | 2010 |
| Data di pubblicazione: | 2010 |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1088/1757-899X/15/1/012025 |
| Settore Scientifico Disciplinare: | Settore FIS/01 - Fisica Sperimentale |
| Lingua: | English |
| Tipologia: | Intervento a convegno |
| Citazione: | Bonfigli, F., Gaudio, P., Lupelli, I., Nichelatti, E., Richetta, M., Vincenti, M.A., et al. (2010). Characterization of lif-based soft x-ray imaging detectors by confocal fluorescence microscopy. In IOP Conferenze series: materials science and engineering (pp.1-8). USA : IOP. |
| Appare nelle tipologie: | 02 - Intervento a convegno |
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