Bonfigli, F., Gaudio, P., Lupelli, I., Nichelatti, E., Richetta, M., Vincenti, M.A., et al. (2010). Characterization of lif-based soft x-ray imaging detectors by confocal fluorescence microscopy. In IOP Conferenze series: materials science and engineering (pp.1-8). USA : IOP.
Autori: | ||
Autori: | Bonfigli, F; Gaudio, P; Lupelli, I; Nichelatti, E; Richetta, M; Vincenti, MA; Montereali, RM | |
Titolo: | Characterization of lif-based soft x-ray imaging detectors by confocal fluorescence microscopy | |
Nome del convegno: | EURODIM 2010: Europhysical conference on defects in insulating materials | |
Anno del convegno: | 2010 | |
Numero del convegno: | 11. | |
Rilevanza: | Rilevanza internazionale | |
Sezione: | contributo | |
???metadata.dc.date.created???: | 2010 | |
Data di pubblicazione: | 2010 | |
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1088/1757-899X/15/1/012025 | |
Settore Scientifico Disciplinare: | Settore FIS/01 - Fisica Sperimentale | |
Lingua: | English | |
Tipologia: | Intervento a convegno | |
Citazione: | Bonfigli, F., Gaudio, P., Lupelli, I., Nichelatti, E., Richetta, M., Vincenti, M.A., et al. (2010). Characterization of lif-based soft x-ray imaging detectors by confocal fluorescence microscopy. In IOP Conferenze series: materials science and engineering (pp.1-8). USA : IOP. | |
Appare nelle tipologie: | 02 - Intervento a convegno |
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