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Hariharan, A., Pontarelli, S., Ottavi, M., Lombardi, F. (2010). Modeling open defects in nanometric scale CMOS. In IEEE 25th International symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems (pp.249-257) [10.1109/DFT.2010.37].

Modeling open defects in nanometric scale CMOS

PONTARELLI, SALVATORE;OTTAVI, MARCO;
2010-01-01
IEEE 25th International symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems
2010
Rilevanza internazionale
2010
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Hariharan, A., Pontarelli, S., Ottavi, M., Lombardi, F. (2010). Modeling open defects in nanometric scale CMOS. In IEEE 25th International symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems (pp.249-257) [10.1109/DFT.2010.37].
Hariharan, A; Pontarelli, S; Ottavi, M; Lombardi, F
02 - Intervento a convegno
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