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Cellere, G., Gerardin, S., Bagatin, M., Paccagnella, A., Visconti, A., Bonanomi, M., et al. (2008). Neutron-induced soft errors in advanced Flash memories. In Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM [10.1109/IEDM.2008.4796693].

Neutron-induced soft errors in advanced Flash memories

ANDREANI, CARLA;PIETROPAOLO, ANTONINO;
2008-01-01

Abstract

[No abstract available]
2008 IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2008
San Francisco, CA
15 December 2008 through 17 December 2008
Rilevanza internazionale
2008
Settore FIS/07 - FISICA APPLICATA (A BENI CULTURALI, AMBIENTALI, BIOLOGIA E MEDICINA)
English
Intervento a convegno
Cellere, G., Gerardin, S., Bagatin, M., Paccagnella, A., Visconti, A., Bonanomi, M., et al. (2008). Neutron-induced soft errors in advanced Flash memories. In Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM [10.1109/IEDM.2008.4796693].
Cellere, G; Gerardin, S; Bagatin, M; Paccagnella, A; Visconti, A; Bonanomi, M; Beltrami, S; Roche, P; Gasiot, G; Sorensen, R; Virtanen, A; Frost, C; F...espandi
02 - Intervento a convegno
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