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Colangeli, S., Bentini, A., Ciccognani, W., Palombini, D., Palomba, M., Limiti, E. (2012). Noise Characterization of 0.5 µm HEMTs Fabricated in GaN-on-Si Technology. In Proceedings of the Microwave Technologies & Techniques Workshop 2012.

Noise Characterization of 0.5 µm HEMTs Fabricated in GaN-on-Si Technology

S. Colangeli;A. Bentini;W. Ciccognani;E. Limiti
2012-05-01
Microwave Technologies & Techniques Workshop 2012
Noordwijk
2012
Rilevanza internazionale
contributo
mag-2012
mag-2012
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Colangeli, S., Bentini, A., Ciccognani, W., Palombini, D., Palomba, M., Limiti, E. (2012). Noise Characterization of 0.5 µm HEMTs Fabricated in GaN-on-Si Technology. In Proceedings of the Microwave Technologies & Techniques Workshop 2012.
Colangeli, S; Bentini, A; Ciccognani, W; Palombini, D; Palomba, M; Limiti, E
02 - Intervento a convegno
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