Attenzione: i dati modificati non sono ancora stati salvati. Per confermare inserimenti o cancellazioni di voci è necessario confermare con il tasto SALVA/INSERISCI in fondo alla pagina
IRIS
The emission of commercial solid-state lasers is shifted by Raman lasers to selected wavelengths suitable for trace gas detection. High power Raman lasers based on Ba(NO3)2, diamond and silicon detect CO2, O3and H2O. Raman lasers base on the physical effect of stimulated Raman scattering. Two new Raman crystals (Spodumene and LuAlO3) are investigated and their SRS-spectra is shown.
Zesch, C., Schrader, S., Prosposito, P., Lux, O., Eichler, H.j. (2018). Raman lasers for trace gas detection. In Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering (pp.41). 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, WA 98227-0010 USA : SPIE [10.1117/12.2522463].
Raman lasers for trace gas detection
Zesch, Christoph;Schrader, Sigurd;Prosposito, Paolo;Lux, Oliver;Eichler, Hans J.
2018-01-01
Abstract
The emission of commercial solid-state lasers is shifted by Raman lasers to selected wavelengths suitable for trace gas detection. High power Raman lasers based on Ba(NO3)2, diamond and silicon detect CO2, O3and H2O. Raman lasers base on the physical effect of stimulated Raman scattering. Two new Raman crystals (Spodumene and LuAlO3) are investigated and their SRS-spectra is shown.
Settore FIS/03 - FISICA DELLA MATERIA Settore FIS/07 - FISICA APPLICATA (A BENI CULTURALI, AMBIENTALI, BIOLOGIA E MEDICINA) Settore ING-IND/22 - SCIENZA E TECNOLOGIA DEI MATERIALI Settore ING-IND/23 - CHIMICA FISICA APPLICATA
English
Barium nitrate; diamond; Raman lasers; silicon; Stimulated Raman Scattering; trace gas detection; Electronic, Optical and Magnetic Materials; Condensed Matter Physics; Computer Science Applications1707 Computer Vision and Pattern Recognition; Applied Mathematics; Electrical and Electronic Engineering
http://spie.org/x1848.xml
Intervento a convegno
Zesch, C., Schrader, S., Prosposito, P., Lux, O., Eichler, H.j. (2018). Raman lasers for trace gas detection. In Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering (pp.41). 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, WA 98227-0010 USA : SPIE [10.1117/12.2522463].
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2108/211045
Citazioni
ND
0
0
social impact
Conferma cancellazione
Sei sicuro che questo prodotto debba essere cancellato?
simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.