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Cavanna, T., Franzese, E., Limiti, E., Pelosi, G., Selleri, S., Suriani, A. (2004). Analysis of critical manufacturing tolerances on millimeter-waves transitions. In 2004 IEEE AP-S/URSI Symposium Digest. Monterey.

Analysis of critical manufacturing tolerances on millimeter-waves transitions

LIMITI, ERNESTO;
2004-06-01
2004 IEEE AP-S/URSI Symposium
Monterey, CA, USA
2004
Rilevanza internazionale
contributo
giu-2004
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Cavanna, T., Franzese, E., Limiti, E., Pelosi, G., Selleri, S., Suriani, A. (2004). Analysis of critical manufacturing tolerances on millimeter-waves transitions. In 2004 IEEE AP-S/URSI Symposium Digest. Monterey.
Cavanna, T; Franzese, E; Limiti, E; Pelosi, G; Selleri, S; Suriani, A
02 - Intervento a convegno
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