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Bentini, A., Ciccognani, W., Colangeli, S., Scucchia, L., Limiti, E. (2011). Highly reliable characterization approaches oriented to active device noise modeling. In Proceedings of the international symposium on microwave and optical technologies(ISMOT 2011). Prague.

Highly reliable characterization approaches oriented to active device noise modeling

CICCOGNANI, WALTER;COLANGELI, SERGIO;SCUCCHIA, LUCIO;LIMITI, ERNESTO
2011-06-01
International symposium on microwave and optical technologies (ISMOT 2011)
Prague, Czech Republic
2011
Rilevanza internazionale
contributo
giu-2011
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Bentini, A., Ciccognani, W., Colangeli, S., Scucchia, L., Limiti, E. (2011). Highly reliable characterization approaches oriented to active device noise modeling. In Proceedings of the international symposium on microwave and optical technologies(ISMOT 2011). Prague.
Bentini, A; Ciccognani, W; Colangeli, S; Scucchia, L; Limiti, E
02 - Intervento a convegno
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