Cleriti, R., Colangeli, S., Ciccognani, W., Bentini, A., Palomba, M., Scucchia, L., et al. (2012). Advanced characterization approaches oriented to microwave cryogenic and noise source-pull measurements. In Atti del Gruppo Elettronica, GE Gruppo Elettronica (pp.54-55). GE Gruppo Elettronica.

Advanced characterization approaches oriented to microwave cryogenic and noise source-pull measurements

COLANGELI, SERGIO;CICCOGNANI, WALTER;SCUCCHIA, LUCIO;LIMITI, ERNESTO
2012-06-01

Gruppo Elettronica, GE Gruppo Elettronica, GE
Marina di Carrara, Carrara, Italy
2012
44th
Associazione Gruppo di Elettronica
Rilevanza nazionale
contributo
2012
Settore ING-INF/01 - Elettronica
English
Intervento a convegno
Cleriti, R., Colangeli, S., Ciccognani, W., Bentini, A., Palomba, M., Scucchia, L., et al. (2012). Advanced characterization approaches oriented to microwave cryogenic and noise source-pull measurements. In Atti del Gruppo Elettronica, GE Gruppo Elettronica (pp.54-55). GE Gruppo Elettronica.
Cleriti, R; Colangeli, S; Ciccognani, W; Bentini, A; Palomba, M; Scucchia, L; Limiti, E
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