IRIS

Cleriti, R., Colangeli, S., Ciccognani, W., Bentini, A., Palomba, M., Scucchia, L., et al. (2012). Advanced characterization approaches oriented to microwave cryogenic and noise source-pull measurements. In Atti del Gruppo Elettronica, GE Gruppo Elettronica (pp.54-55). GE Gruppo Elettronica.

Advanced characterization approaches oriented to microwave cryogenic and noise source-pull measurements

COLANGELI, SERGIO;CICCOGNANI, WALTER;SCUCCHIA, LUCIO;LIMITI, ERNESTO
2012-06-01
Gruppo Elettronica, GE Gruppo Elettronica, GE
Marina di Carrara, Carrara, Italy
2012
44th
Associazione Gruppo di Elettronica
Rilevanza nazionale
contributo
2012
giu-2012
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Intervento a convegno
Cleriti, R., Colangeli, S., Ciccognani, W., Bentini, A., Palomba, M., Scucchia, L., et al. (2012). Advanced characterization approaches oriented to microwave cryogenic and noise source-pull measurements. In Atti del Gruppo Elettronica, GE Gruppo Elettronica (pp.54-55). GE Gruppo Elettronica.
Cleriti, R; Colangeli, S; Ciccognani, W; Bentini, A; Palomba, M; Scucchia, L; Limiti, E
02 - Intervento a convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2108/180271
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact