AUF DER MAUR, M., DI CARLO, A. (2013). AlGaN/GaN HEMT Degradation: An Electro-Thermo-Mechanical Simulation. IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 60(10), 3142-3148 [10.1109/TED.2013.2267547].

AlGaN/GaN HEMT Degradation: An Electro-Thermo-Mechanical Simulation

AUF DER MAUR, MATTHIAS;DI CARLO, ALDO
2013-01-01

2013
Pubblicato
Rilevanza internazionale
Articolo
Esperti anonimi
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
AUF DER MAUR, M., DI CARLO, A. (2013). AlGaN/GaN HEMT Degradation: An Electro-Thermo-Mechanical Simulation. IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 60(10), 3142-3148 [10.1109/TED.2013.2267547].
AUF DER MAUR, M; DI CARLO, A
Articolo su rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2108/94814
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 17
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 11
social impact