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Ottavi, M., Schiano, L., Wang, X., Kim, Y., Meyer, F., Lombardi, F. (2006). Evaluating the yield of repairable SRAMs for ATE. IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 55(5), 1704-1712 [10.1109/TIM.2006.880315].

Evaluating the yield of repairable SRAMs for ATE

OTTAVI, MARCO;
2006-01-01
2006
Pubblicato
Rilevanza internazionale
Articolo
Esperti anonimi
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Ottavi, M., Schiano, L., Wang, X., Kim, Y., Meyer, F., Lombardi, F. (2006). Evaluating the yield of repairable SRAMs for ATE. IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 55(5), 1704-1712 [10.1109/TIM.2006.880315].
Ottavi, M; Schiano, L; Wang, X; Kim, Y; Meyer, F; Lombardi, F
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01 - Articolo su rivista
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