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Wang, X., Ottavi, M., Meyer, F., Lombardi, F. (2005). Estimating the manufacturing yield of compiler-based embedded SRAMs. IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING, 18(3), 412-421 [10.1109/TSM.2005.852108].

Estimating the manufacturing yield of compiler-based embedded SRAMs

OTTAVI, MARCO;
2005-01-01
2005
Pubblicato
Rilevanza internazionale
Articolo
Esperti anonimi
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Wang, X., Ottavi, M., Meyer, F., Lombardi, F. (2005). Estimating the manufacturing yield of compiler-based embedded SRAMs. IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING, 18(3), 412-421 [10.1109/TSM.2005.852108].
Wang, X; Ottavi, M; Meyer, F; Lombardi, F
Articolo su rivista
01 - Articolo su rivista
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