IRIS

Picozzi, P., Balzarotti, A. (1974). Determination of the optical constants of the Si-SiO2 system by the method of the angular modulation of reflectance. SURFACE SCIENCE, 45(1), 227-237 [10.1016/0039-6028(74)90165-4].

Determination of the optical constants of the Si-SiO2 system by the method of the angular modulation of reflectance

BALZAROTTI, ADALBERTO
1974-01-01
1974
Pubblicato
Rilevanza internazionale
Articolo
Sì, ma tipo non specificato
Settore FIS/03 - FISICA DELLA MATERIA
English
Con Impact Factor ISI
Picozzi, P., Balzarotti, A. (1974). Determination of the optical constants of the Si-SiO2 system by the method of the angular modulation of reflectance. SURFACE SCIENCE, 45(1), 227-237 [10.1016/0039-6028(74)90165-4].
Picozzi, P; Balzarotti, A
Articolo su rivista
01 - Articolo su rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2108/48099
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact