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DE CRESCENZI, M., Gaggiotti, G., Motta, N., Patella, F., Balzarotti, A., Derrien, J. (1990). BIS and XPS investigations of the electronic structure of beta-FeSi2 and Fe/Si (111) interface. PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER, 42, 5871-5695.

BIS and XPS investigations of the electronic structure of beta-FeSi2 and Fe/Si (111) interface

DE CRESCENZI, MAURIZIO;PATELLA, FULVIA;BALZAROTTI, ADALBERTO;
1990-01-01
1990
Pubblicato
Rilevanza internazionale
Articolo
Sì, ma tipo non specificato
Settore FIS/03 - FISICA DELLA MATERIA
English
Con Impact Factor ISI
DE CRESCENZI, M., Gaggiotti, G., Motta, N., Patella, F., Balzarotti, A., Derrien, J. (1990). BIS and XPS investigations of the electronic structure of beta-FeSi2 and Fe/Si (111) interface. PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER, 42, 5871-5695.
DE CRESCENZI, M; Gaggiotti, G; Motta, N; Patella, F; Balzarotti, A; Derrien, J
Articolo su rivista
01 - Articolo su rivista
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