Rochet, F., Balzarotti, A., DE CRESCENZI, M., Motta, N., Muraly, S., Patella, F. (1989). Study of laser-deposited Bi2Sr2CaCu2O8+delta thin films by Rutheford backscattering,x-ray photoemission and x-ray Auger spectroscopy, 151, 13-21 [10.1016/0022-5088(89)90291-9].

Study of laser-deposited Bi2Sr2CaCu2O8+delta thin films by Rutheford backscattering,x-ray photoemission and x-ray Auger spectroscopy

BALZAROTTI, ADALBERTO;DE CRESCENZI, MAURIZIO;PATELLA, FULVIA
1989-01-01

1989
Pubblicato
Rilevanza internazionale
Articolo
Sì, ma tipo non specificato
Settore FIS/03 - FISICA DELLA MATERIA
English
Con Impact Factor ISI
Rochet, F., Balzarotti, A., DE CRESCENZI, M., Motta, N., Muraly, S., Patella, F. (1989). Study of laser-deposited Bi2Sr2CaCu2O8+delta thin films by Rutheford backscattering,x-ray photoemission and x-ray Auger spectroscopy, 151, 13-21 [10.1016/0022-5088(89)90291-9].
Rochet, F; Balzarotti, A; DE CRESCENZI, M; Motta, N; Muraly, S; Patella, F
Articolo su rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2108/45729
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact