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Caddemi, A., Limiti, E. (2015). Guest editorial for the special issue on noise modeling of high-frequency semiconductor devices. INTERNATIONAL JOURNAL OF NUMERICAL MODELLING-ELECTRONIC NETWORKS DEVICES AND FIELDS, 28(6), 611-612 [10.1002/jnm.2097].

Guest editorial for the special issue on noise modeling of high-frequency semiconductor devices

Limiti E.
2015-01-01
2015
Pubblicato
Rilevanza internazionale
Editoriale
Nessuno
Settore ING-INF/01
English
Con Impact Factor ISI
semiconductor material
microscopic noise processes
macroscopic behavior
advanced GaAs
SiGe devices
Caddemi, A., Limiti, E. (2015). Guest editorial for the special issue on noise modeling of high-frequency semiconductor devices. INTERNATIONAL JOURNAL OF NUMERICAL MODELLING-ELECTRONIC NETWORKS DEVICES AND FIELDS, 28(6), 611-612 [10.1002/jnm.2097].
Caddemi, A; Limiti, E
Articolo su rivista
01 - Articolo su rivista
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