Cinà, L., Di Carlo, A., Reale, A. (2012). Time resolved temperature profiles of high power HEMTs by photocurrent spectral analysis. MICROELECTRONICS RELIABILITY, 52(9-10), 2077-2080 [10.1016/j.microrel.2012.06.060].
Time resolved temperature profiles of high power HEMTs by photocurrent spectral analysis
A. Di Carlo;A. Reale
2012-01-01
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
p69 2012 MR Cina lifepulse MR10511.pdf
solo utenti autorizzati
Tipologia:
Versione Editoriale (PDF)
Licenza:
Copyright dell'editore
Dimensione
635.13 kB
Formato
Adobe PDF
|
635.13 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.