Cinà, L., Di Carlo, A., Reale, A. (2012). Time resolved temperature profiles of high power HEMTs by photocurrent spectral analysis. MICROELECTRONICS RELIABILITY, 52(9-10), 2077-2080 [10.1016/j.microrel.2012.06.060].

Time resolved temperature profiles of high power HEMTs by photocurrent spectral analysis

A. Di Carlo;A. Reale
2012-01-01

2012
Pubblicato
Rilevanza internazionale
Articolo
Esperti anonimi
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Cinà, L., Di Carlo, A., Reale, A. (2012). Time resolved temperature profiles of high power HEMTs by photocurrent spectral analysis. MICROELECTRONICS RELIABILITY, 52(9-10), 2077-2080 [10.1016/j.microrel.2012.06.060].
Cinà, L; Di Carlo, A; Reale, A
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