Bosi, G., Raffo, A., Vadalà, V., Giofre, R., Crupi, G., Vannini, G. (2023). A Thorough Evaluation of GaN HEMT Degradation under Realistic Power Amplifier Operation. ELECTRONICS, 12(13) [10.3390/electronics12132939].
A Thorough Evaluation of GaN HEMT Degradation under Realistic Power Amplifier Operation
Giofre, Rocco;
2023-01-01
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