Ries, M., Poliani, E., Nippert, F., Seidlitz, D., Greif, L., Koslow, I., et al. (2023). Impact of nanoscale fluctuations and cap-layer thickness in buried InGaN single quantum wells probed by tip-enhanced Raman scattering. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 133(9), 094303 [10.1063/5.0129896].
Impact of nanoscale fluctuations and cap-layer thickness in buried InGaN single quantum wells probed by tip-enhanced Raman scattering
Auf der Maur, M.;
2023-01-01
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