Attenzione: i dati modificati non sono ancora stati salvati. Per confermare inserimenti o cancellazioni di voci è necessario confermare con il tasto SALVA/INSERISCI in fondo alla pagina
IRIS
We determined the properties of Zn1-xMgxSe semiconductor alloys through a combination of optical and photoelectron spectroscopy, x-ray diffraction, Rutherford backscattering spectrometry, and ab initio pseudopotential calculations. The complementary character of the techniques and the good agreement between calculated and experimental trends allowed us to explain some of the discrepancies between the reported properties of these wide band gap alloys. (C) 2004 American Institute of Physics.
Pelucchi, E., Rubini, S., Bonanni, B., Franciosi, A., Zaoui, A., Peressi, M., et al. (2004). Structural and electronic properties of wide band gap Zn 1-xMgxSe alloys. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 95(8), 4184-4192 [10.1063/1.1682688].
Structural and electronic properties of wide band gap Zn 1-xMgxSe alloys
We determined the properties of Zn1-xMgxSe semiconductor alloys through a combination of optical and photoelectron spectroscopy, x-ray diffraction, Rutherford backscattering spectrometry, and ab initio pseudopotential calculations. The complementary character of the techniques and the good agreement between calculated and experimental trends allowed us to explain some of the discrepancies between the reported properties of these wide band gap alloys. (C) 2004 American Institute of Physics.
Pelucchi, E., Rubini, S., Bonanni, B., Franciosi, A., Zaoui, A., Peressi, M., et al. (2004). Structural and electronic properties of wide band gap Zn 1-xMgxSe alloys. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 95(8), 4184-4192 [10.1063/1.1682688].
Pelucchi, E; Rubini, S; Bonanni, B; Franciosi, A; Zaoui, A; Peressi, M; Baldereschi, A; De Salvador, D; Berti, M; Drigo, A; Romanato, F
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2108/311739
Citazioni
ND
6
6
social impact
Conferma cancellazione
Sei sicuro che questo prodotto debba essere cancellato?
simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
