Grange, T., Mukherjee, S., Capellini, G., Montanari, M., Persichetti, L., Di Gaspare, L., et al. (2020). Atomic-scale insights into semiconductor heterostructures: from experimental three-dimensional analysis of the interface to a generalized theory of interfacial roughness scattering. PHYSICAL REVIEW APPLIED, 13(4) [10.1103/PhysRevApplied.13.044062].
Atomic-scale insights into semiconductor heterostructures: from experimental three-dimensional analysis of the interface to a generalized theory of interfacial roughness scattering
Persichetti, L.;
2020-01-01
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