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Bonfigli, F., Gaudio, P., Lupelli, I., Nichelatti, E., Richetta, M., Vincenti, M., et al. (2010). Characterization of LiF-based soft X-ray imaging detectors by confocal fluorescence microscopy. IOP CONFERENCE SERIES: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING, 15(1) [10.1088/1757-899X/15/1/01202].

Characterization of LiF-based soft X-ray imaging detectors by confocal fluorescence microscopy

GAUDIO, PASQUALINO;RICHETTA, MARIA;
2010-01-01
2010
Pubblicato
Rilevanza internazionale
Articolo
Sì, ma tipo non specificato
Settore FIS/01 - FISICA SPERIMENTALE
English
Con Impact Factor ISI
Bonfigli, F., Gaudio, P., Lupelli, I., Nichelatti, E., Richetta, M., Vincenti, M., et al. (2010). Characterization of LiF-based soft X-ray imaging detectors by confocal fluorescence microscopy. IOP CONFERENCE SERIES: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING, 15(1) [10.1088/1757-899X/15/1/01202].
Bonfigli, F; Gaudio, P; Lupelli, I; Nichelatti, E; Richetta, M; Vincenti, M; Montereali, R
Articolo su rivista
01 - Articolo su rivista
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