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Colangeli, S., Giofre, R., Ciccognani, W., Limiti, E. (2018). A Simple Test to Check the Inherent-Stability Proviso on Field-Effect Transistors. IEEE ACCESS, 6(August, 2018), 43079-43087 [10.1109/ACCESS.2018.2862162].

A Simple Test to Check the Inherent-Stability Proviso on Field-Effect Transistors

Colangeli S.
;Giofre R.;Ciccognani W.;Limiti E.
2018-12-01
dic-2018
Pubblicato
Rilevanza internazionale
Articolo
Esperti anonimi
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Article number 8424809
Colangeli, S., Giofre, R., Ciccognani, W., Limiti, E. (2018). A Simple Test to Check the Inherent-Stability Proviso on Field-Effect Transistors. IEEE ACCESS, 6(August, 2018), 43079-43087 [10.1109/ACCESS.2018.2862162].
Colangeli, S; Giofre, R; Ciccognani, W; Limiti, E
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