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Agati, M., Amiard, G., Le Borgne, V., Castrucci, P., Dolbec, R., DE CRESCENZI, M., et al. (2017). Self-assembly of silicon nanowires studied by advanced transmission electron microscopy. BEILSTEIN JOURNAL OF NANOTECHNOLOGY, 8, 440-445 [doi:10.3762/bjnano.8.47].

Self-assembly of silicon nanowires studied by advanced transmission electron microscopy

CASTRUCCI, PAOLA;DE CRESCENZI, MAURIZIO;
2017-01-01
2017
Pubblicato
Rilevanza internazionale
Articolo
Esperti anonimi
Settore FIS/03 - FISICA DELLA MATERIA
English
Con Impact Factor ISI
Agati, M., Amiard, G., Le Borgne, V., Castrucci, P., Dolbec, R., DE CRESCENZI, M., et al. (2017). Self-assembly of silicon nanowires studied by advanced transmission electron microscopy. BEILSTEIN JOURNAL OF NANOTECHNOLOGY, 8, 440-445 [doi:10.3762/bjnano.8.47].
Agati, M; Amiard, G; Le Borgne, V; Castrucci, P; Dolbec, R; DE CRESCENZI, M; El Khakani, M; Boninelli, S
Articolo su rivista
01 - Articolo su rivista
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