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Li, G., Mathew, J., Shafik, R., Pradhan, D., Ottavi, M., Pontarelli, S. (2015). Lifetime reliability analysis of complementary resistive switches under threshold and doping interface speed variations. IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY, 14(1), 130-139 [10.1109/TNANO.2014.2371928].

Lifetime reliability analysis of complementary resistive switches under threshold and doping interface speed variations

OTTAVI, MARCO;PONTARELLI, SALVATORE
2015-01-01
gen-2015
Pubblicato
Rilevanza internazionale
Articolo
Esperti anonimi
Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA
English
Li, G., Mathew, J., Shafik, R., Pradhan, D., Ottavi, M., Pontarelli, S. (2015). Lifetime reliability analysis of complementary resistive switches under threshold and doping interface speed variations. IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY, 14(1), 130-139 [10.1109/TNANO.2014.2371928].
Li, G; Mathew, J; Shafik, R; Pradhan, D; Ottavi, M; Pontarelli, S
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01 - Articolo su rivista
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