In questo lavoro viene studiato il comportamento a fatica di compositi con matrice in lega di Al e rinforzo ceramico particellare e gli effetti di ricoperture con strati sottili di Ti. I materiali considerati sono il composito A359-20% SiCp (SiC particellare), prodotto per fonderia, ed il composito 6061-20% SiCp, prodotto per metallurgia delle polveri. Le ricoperture di Ti, aventi spessore di 2 mm, sono state ottenute mediante sputtering. Le prove di fatica sono state effettuate usando una macchina a flessione rotante con provino montato in sbalzo. I campioni rivestiti, di ambedue i compositi, mostrano un notevole aumento della vita a fatica; l’effetto è maggiore per la lega 6061 dove si ha una dispersione più omogenea del rinforzo. La morfologia delle superfici di frattura è stata studiata mediante osservazioni di microscopia elettronica in scansione (SEM).
Costanza, G., Montanari, R., Sili, A.m. (2000). Comportamento a fatica di compositi a matrice in lega di Al con rivestimento superficiale in Ti. In Atti del 28° Convegno Nazionale AIM (pp.231-237). Milano.
Comportamento a fatica di compositi a matrice in lega di Al con rivestimento superficiale in Ti
COSTANZA, GIROLAMO;MONTANARI, ROBERTO;SILI, ANDREA MARIANO
2000-11-01
Abstract
In questo lavoro viene studiato il comportamento a fatica di compositi con matrice in lega di Al e rinforzo ceramico particellare e gli effetti di ricoperture con strati sottili di Ti. I materiali considerati sono il composito A359-20% SiCp (SiC particellare), prodotto per fonderia, ed il composito 6061-20% SiCp, prodotto per metallurgia delle polveri. Le ricoperture di Ti, aventi spessore di 2 mm, sono state ottenute mediante sputtering. Le prove di fatica sono state effettuate usando una macchina a flessione rotante con provino montato in sbalzo. I campioni rivestiti, di ambedue i compositi, mostrano un notevole aumento della vita a fatica; l’effetto è maggiore per la lega 6061 dove si ha una dispersione più omogenea del rinforzo. La morfologia delle superfici di frattura è stata studiata mediante osservazioni di microscopia elettronica in scansione (SEM).I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.