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DE CRESCENZI, M., Gaggiotti, G., Motta, N., Patella, F., Balzarotti, A., Mattogno, G., et al. (1990). Characterization of beta-FeSi2 and the Fe/Si(111) interface by electronic spectroscopies. VUOTO, 20(4), 653.

Characterization of beta-FeSi2 and the Fe/Si(111) interface by electronic spectroscopies

DE CRESCENZI, MAURIZIO;PATELLA, FULVIA;BALZAROTTI, ADALBERTO;
1990-01-01
1990
Pubblicato
Rilevanza nazionale
Articolo
Sì, ma tipo non specificato
Settore FIS/03 - FISICA DELLA MATERIA
English
Da "Vuoto-scienza e Tecnologia", periodico dell'AIV (Associazione Italiana Vuoto) pubblicato dal 1968 al 2001.
DE CRESCENZI, M., Gaggiotti, G., Motta, N., Patella, F., Balzarotti, A., Mattogno, G., et al. (1990). Characterization of beta-FeSi2 and the Fe/Si(111) interface by electronic spectroscopies. VUOTO, 20(4), 653.
DE CRESCENZI, M; Gaggiotti, G; Motta, N; Patella, F; Balzarotti, A; Mattogno, G; Derrien, J
Articolo su rivista
01 - Articolo su rivista
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