DE CRESCENZI, M., Gaggiotti, G., Motta, N., Patella, F., Balzarotti, A., Derrien, J. (1990). BIS and XPS investigations of the electronic structure of beta-FeSi2 and Fe/Si (111) interface. PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER, 42, 5871-5695.
BIS and XPS investigations of the electronic structure of beta-FeSi2 and Fe/Si (111) interface
DE CRESCENZI, MAURIZIO;PATELLA, FULVIA;BALZAROTTI, ADALBERTO;
1990-01-01
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