Paparazzo, E., Fanfoni, M., Quaresima, C., Perfetti, P. (1990). Evidence of siox suboxides at ar ion etched-silica surfaces. In JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS (pp.2231-2235). WOODBURY : AMER INST PHYSICS.

Evidence of siox suboxides at ar ion etched-silica surfaces

FANFONI, MASSIMO;
1990-01-01

36TH NATIONAL SYMP OF THE AMERICAN VACUUM SOC
BOSTON, MA
OCT 23-27, 1989
AMER VACUUM SOC
Rilevanza internazionale
contributo
1990
Settore FIS/03 - FISICA DELLA MATERIA
English
5
Intervento a convegno
Paparazzo, E., Fanfoni, M., Quaresima, C., Perfetti, P. (1990). Evidence of siox suboxides at ar ion etched-silica surfaces. In JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS (pp.2231-2235). WOODBURY : AMER INST PHYSICS.
Paparazzo, E; Fanfoni, M; Quaresima, C; Perfetti, P
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