Bonfigli, F., Gaudio, P., Lupelli, I., Nichelatti, E., Richetta, M., Vincenti, M., et al. (2010). Characterization of lif-based soft x-ray imaging detectors by confocal fluorescence microscopy. In IOP Conferenze series: materials science and engineering (pp.1-8). USA : IOP [10.1088/1757-899X/15/1/012025].

Characterization of lif-based soft x-ray imaging detectors by confocal fluorescence microscopy

GAUDIO, PASQUALINO;RICHETTA, MARIA;
2010-01-01

EURODIM 2010: Europhysical conference on defects in insulating materials
2010
11.
Rilevanza internazionale
contributo
2010
2010
Settore FIS/01 - FISICA SPERIMENTALE
English
Intervento a convegno
Bonfigli, F., Gaudio, P., Lupelli, I., Nichelatti, E., Richetta, M., Vincenti, M., et al. (2010). Characterization of lif-based soft x-ray imaging detectors by confocal fluorescence microscopy. In IOP Conferenze series: materials science and engineering (pp.1-8). USA : IOP [10.1088/1757-899X/15/1/012025].
Bonfigli, F; Gaudio, P; Lupelli, I; Nichelatti, E; Richetta, M; Vincenti, M; Montereali, R
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