IRIS

[No abstract available]

Cellere, G., Gerardin, S., Bagatin, M., Paccagnella, A., Visconti, A., Bonanomi, M., et al. (2008). Neutron-induced soft errors in advanced Flash memories. In Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM [10.1109/IEDM.2008.4796693].

Neutron-induced soft errors in advanced Flash memories

ANDREANI, CARLA;PIETROPAOLO, ANTONINO;
2008-01-01

Abstract

[No abstract available]
2008 IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2008
San Francisco, CA
15 December 2008 through 17 December 2008
Rilevanza internazionale
2008
Settore FIS/07 - FISICA APPLICATA (A BENI CULTURALI, AMBIENTALI, BIOLOGIA E MEDICINA)
English
Intervento a convegno
Cellere, G., Gerardin, S., Bagatin, M., Paccagnella, A., Visconti, A., Bonanomi, M., et al. (2008). Neutron-induced soft errors in advanced Flash memories. In Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM [10.1109/IEDM.2008.4796693].
Cellere, G; Gerardin, S; Bagatin, M; Paccagnella, A; Visconti, A; Bonanomi, M; Beltrami, S; Roche, P; Gasiot, G; Sorensen, R; Virtanen, A; Frost, C; Fuochi, P; Andreani, C; Gorini, G; Pietropaolo, A; Platt, S
02 - Intervento a convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2108/23668
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 15
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 4
social impact