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Surface and structural disorder in MBE and sputtering deposited Cu thin films revealed by X-ray measurements
2008-01-01 Salvato, M; Aurigemma, A; Tesauro, A; Attanasio, C
Temperature-dependent Cu interface growth on GaP(110) via Auger lineshape and X-ray photoemission spectroscopies
1990-01-01 Sancrotti, M; Ciccacci, F; Fanfoni, M; Chiaradia, P
Data di pubblicazione | Titolo | Autore(i) | Tipo | File |
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1-gen-2008 | Surface and structural disorder in MBE and sputtering deposited Cu thin films revealed by X-ray measurements | Salvato, M; Aurigemma, A; Tesauro, A; Attanasio, C | Articolo su rivista | |
1-gen-1990 | Temperature-dependent Cu interface growth on GaP(110) via Auger lineshape and X-ray photoemission spectroscopies | Sancrotti, M; Ciccacci, F; Fanfoni, M; Chiaradia, P | Articolo su rivista |
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